X射線是類似可見(jiàn)光的一種電磁波（圖1），被廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域，比如X探傷，晶體學(xué)，元素成分分析等等。

圖1 光譜圖

X射線最早是由德國(guó)物理學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)的，最早是用于醫(yī)學(xué)影像檢測(cè)。后來(lái)，經(jīng)過(guò)對(duì)X射線不斷研究，英國(guó)物理學(xué)家巴克拉發(fā)現(xiàn)當(dāng)X射線照射某元素時(shí)，會(huì)發(fā)出一條與之對(duì)應(yīng)的特征譜線，并以此建立了X射線光譜學(xué)。這一發(fā)現(xiàn)促進(jìn)了X射線熒光光譜儀的誕生。

經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，X射線熒光光譜儀作為一種快速、無(wú)損的成份檢測(cè)儀器，被廣泛應(yīng)用生產(chǎn)檢測(cè)當(dāng)中。

X射線熒光光譜儀基本原理：X射線管產(chǎn)生的X射線(初級(jí)X射線)照到物質(zhì)(樣品)上時(shí)，與元素的核外電子發(fā)生相互作用，將內(nèi)層電子激發(fā)，形成軌道空穴，遵循能量最低原理，外層電子補(bǔ)充進(jìn)來(lái)，這個(gè)過(guò)程會(huì)有能量差，這部分能量以特征X射線形式釋放，而每個(gè)元素的特征X射線的能量和波長(zhǎng)是不同的，便可根據(jù)特征X射線進(jìn)行元素判別，根據(jù)熒光強(qiáng)度可判別其在物質(zhì)中含量。

X射線熒光光譜儀分析元素范圍從4號(hào)元素Be開(kāi)始一直到92號(hào)U元素，主要是針對(duì)固體、液體分析，很難分析氣體，所以惰性氣體不屬于X射線熒光光譜儀分析范疇。元素周期表中，有一些重元素不穩(wěn)定，容易發(fā)生衰變，形成新的粒子，這些元素也不在X射線熒光光譜儀的分析范疇。