波長色散型X射線熒光光譜儀是根據(jù)X射線衍射原理，采用分光晶體為色散件，以布拉格定律為基礎，對不同波長特征譜線進行分光，然后進行探測。波長色散X射線熒光光譜儀具有分辨率好、靈敏度高的優(yōu)點，可用于固體、粉末或液體物質的元素分析，廣泛應用在地質、冶金、文物、生物、活體、環(huán)境、健康、大氣顆粒物等諸多領域。

 

波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀的區(qū)別

 

雖然波長色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀與能量色散型（WD-XRF）X射線熒光光譜儀同屬X射線熒光分析儀，它們產生信號的方法相同，最后得到的波譜或者能譜也極為相似，但由于采集數(shù)據(jù)的方式不同，ED-XRF（波譜）與WD-XRF（能譜）在原理和儀器結構上有所不同，功能也有區(qū)別。

 

一、原理區(qū)別

 

X-射線熒光光譜法，是用X-射線管發(fā)出的初級線束輻照樣品，激發(fā)各化學元素發(fā)出二次譜線（X-熒光）。波長色散型熒光光儀（WD-XRF）是分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的含量。而能量色散型X射線熒光光儀（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量分離X-射線光譜線，根據(jù)各元素能量的高低來測定各元素的量。由于原理不同，故儀器結構也不同。

 

二、結構區(qū)別

 

波長色散型熒光光譜儀（WD-XRF），一般由光源（X-射線管）、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在一個精的測角儀上，還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射，造成強度的損失，要求作為光源的X-射線管的功率要大，一般為2～3千瓦。但X-射線管的效率極低，只有1%的電功率轉化為X-射線輻射功率，大部分電能均轉化為熱能產生高溫，所以X-射線管需要專門的冷卻裝置。