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分析檢測儀器

PYGC鄰苯檢測儀 X射線衍射儀美國TA熱重分析儀步琦制備色譜系統(tǒng) 德國蔡司三坐標(biāo)測量機(jī) 導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng) 絕緣電阻測試系統(tǒng) RoHS2.0檢測儀器輝光放電發(fā)射光譜儀紅外測溫儀冰點，傾點，凝點，濁點半導(dǎo)體參數(shù)分析儀材料膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)樣品

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錫膏測厚儀
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更新時間：2024-04-09型號：SPI3D-AH訪問量：1160

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日本Otsuka顯微分光膜厚儀
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）區(qū)域傳感器的安全機(jī)制易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求支持各種自定義

更新時間：2023-10-07型號：OPTM SERIES訪問量：1517

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日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
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更新時間：2023-10-06型號：訪問量：1133

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